表題番号：2021C-723 日付：2022/04/08
研究課題電離圏電子密度プロファイル推定に関する研究
研究者所属（当時） 資格 氏名
（代表者） 理工学術院 基幹理工学部 助手 吉井　一駿
（連携研究者） 情報通信学科 教授 嶋本 薫
研究成果概要
電離層フェージングは電離層状態の変動を原因のひとつとして発生し短波帯の通信品質に影響を与える。電離圏電子密度プロファイルがリアルタイムに推定できれば送信局における適切な位相・電力制御によりこれらのフェージングを低減可能なことがこれまでの研究により示されているが、従来の推定手法ではリアルタイム性に課題が残る。これまで提案してきたフェージング低減手法では短波の伝搬経路上の電子密度プロファイルが得られれば十分な制御を行えることから、伝搬経路近傍における電離層状態推定の高時間分解能化の実現を目標として理論的側面からの検討やシミュレータの構築を含む多角的な研究を行った。