アレー符号は RAID (redundant arrays of inexpensive disk) などストレージデバイスで用いられている誤り訂正符号であり，Reed-Solomon (RS) 符号のような最大分離距離 (MDS) 符号が古くから知られている．

本課題では, 2次元消失通信路に対する非2元低密度パリティ検査符号の性能を評価した．

ストレージデバイスの構造に着目し，2つの符号語ビットの配置法を提案し密度発展法による解析方法を示した．

配置法の提案にあたって従来の残余グラフでの議論が成り立たないため，変数ノードが故障ストレージに接続される数を考慮した．

評価にあたっては，提案する方法は従来の非2元低密度パリティ検査符号および同じ符号長をもつ2元低密度パリティ検査符号より高い性能を示した．