表題番号：2018B-219 日付：2019/04/16
研究課題ランダムスキャン2光子顕微鏡を用いた多点膜電位計測による局所神経回路の解明
研究者所属（当時） 資格 氏名
（代表者） 理工学術院 先進理工学部 教授 井上　貴文
研究成果概要
申請者はランダムスキャン型2光子顕微鏡を開発し、培養神経細胞からの同時多点活動電位計測に成功し、複数神経細胞間のシナプス結合の有無およびその方向性を明らかにし、局所回路の機能的構造を実測することが可能であることを示した。本研究では多点活動電位測定を、脳切片、さらに生体脳で行い、神経回路の機能的回路構造の読み出しを目指した。DiO/DPA電位感受性指示薬だけでなく、より使用しやすいPETセンサーの化学合成を行い、最終的な精製の一歩手前まで到達した。またGEVIを脳切片、マウス脳神経細胞に発現させ、活動電位計測が可能であることを確かめた。ゼブラフィッシュ神経細胞にGEVIを発現させ研究は継続している。