表題番号:2018B-211 日付:2019/03/13
研究課題高品質GaAsN系超格子の成長と励起子に関する研究
研究者所属(当時) 資格 氏名
(代表者) 理工学術院 先進理工学部 教授 牧本 俊樹
研究成果概要

 SiドープGaAsNとBeドープGaAsNに対して、フォトルミネッセンススペクトルの測定温度依存性を評価した。そして、アンドープGaAsNとは異なり、高濃度の不純物ドーピングを行ったGaAsNは、S-shape特性[1]を示さないことを明らかにした。また、S-shape特性を示さなくなる不純物濃度は、Si不純物よりもBe不純物の方が高いことがわかった。これらの実験結果は、高濃度ドーピングにより縮退半導体となったため、N組成の不均一性の影響が抑制されたことを示しているものと考えられる。 [1] Cheng Chen et al., J. Alloys and Compounds, 699, 297 (2017).