表題番号：2017K-161 日付：2018/02/21
研究課題機械学習による複合的なIoTデバイスの異常検知・回復技術の構築
研究者所属（当時） 資格 氏名
（代表者） 理工学術院 基幹理工学部 教授 戸川　望
研究成果概要
IoT（「もの」のインターネット）デバイスは多くの大規模集積回路（LSI）によって構成されが，その設計・製造プロセスにおいて，悪意ある設計・製造者が存在した場合，IoTデバイスに原理的に設計者の意図しない不正な回路部品(ハードウェアトロイと呼ばれる)の侵入の危険性がある．安全かつ安心にIoTデバイスを運用するためには，IoTデバイス中の不正な回路部品をいち早く検知，これを取り除くことで，セキュアなIoTデバイスを実現する必要が強く求められる．本研究では機械学習を積極的に利用することで，IoTデバイス中の不正回路を高精度に検知することに成功し，またIoTデバイスの消費電力を計測することで不正動作を発見することに成功した．