近接場分光顕微装置

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researcher's name
affiliation
research field
薄膜・表面界面物性,ナノ構造科学,物理化学
keyword
patent name
近接場分光装置
publication number
2017-58281
applicants
学校法人早稲田大学
region
日本

summary

◆ナノメートルの空間分解能で試料の分光特性評価が可能
◆単一波長での測定に限定されていた反射観察を多波長に拡張
◆「位相ステッピング法」により広帯域かつ高精度の分光測定を実現
◆測定対象が不透明なものでも測定可能に

predominance

◆回折限界を超える空間分解能を実現 
◆高精度の分光データから得られる明瞭な物性 
◆既存の近接場分光装置に後付可能

remarks


透明な試料でも高精度かつ明瞭に観察できる

purpose of providing seeds

Sponsord research, Collaboration research, Technical consultation, IP licensing

material

  • 近接場反射スペクトルの比較
  • 近接場反射イメージの比較
  • 計算スペクトルとの比較

collaborative inventors

溝端 秀聡

posted: 2015/11/03